نحوه تحلیل الگوهای پراش پرتوایکس و الگوهای SAED در تصاویر TEM به عنوان روش های مکمل

توضیحات

سرفصل های دوره

نحوه تشکیل الگوهای پراش

ارتباط الگوهای پراش با ریزساختار

 

تعیین تابع شدت پیک

حذف خطاهای دستگاهی

معادله شرر

معادله ویلیامسون-هال

روش های مطالعه رسوبات نانومتری

آماده سازی نمونه در TEM

پراش الکترونی در منطقه انتخابی (SAED)

اندیس گزاری و شناسایی

تصاویر Dark Field

 

قیمت دوره: ۰ ریال
تاریخ شروع دوره: ۰۳-۰۶-۱۴۰۱
استاد: فرزاد حسینی نسب